一:CCI HD适合用于制造和研究领域，可测量厚度至1.5微米的厚膜及厚度至50纳米的薄膜涂层。
CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪，具有测量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。 这种新型的 CCI HD 整合了世界领先的非接触式尺寸测量功能和先进的厚薄膜测量技术。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度测量功能，还可以提供两种类型的膜厚测量。 近年来厚膜分析被用于研究厚度至约 1.5 微米的半透明涂料；测量的厚度限制取决于材料的折射率和标的物的 NA。 测量较薄的涂层被证实为难度更高。
现在通过干涉测量法可以研究厚度至 50 纳米（同样取决于折射率）的薄膜涂层。 采用这种新型方法，可以在单次测量中研究膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层表面的剥离等特性。
1.2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.适用于0.3% - 100%的表面反射率
4.RMS 重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
5.多语言版本的64位控制和分析软件
二:CCI MP-HS非常适合用于研究领域，从非常粗糙的表面到极其光滑的表面，任何类型的表面它都能测量，因而具备测量各种元件的能力。
无论测量的是何种元件，无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 一百万高速相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。
CCI MP-HS极大地扩展了分析能力，同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面，不需要进行复杂的测量模式切换，也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和报告，CCI MP-HS可轻松地整合到您的质量管理系统中。
1.1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率
2.高级X、Y、Z拼接，扩展量程
3.RMS重复精度<0.2 埃，阶跃高度重复精度<0.1%
4.整合抗振，优化抗噪性能
5.多语言版本的Windows，64位软件
三:CCI MP 是一种多功能的非接触式 3D 轮廓仪，可测量抛光表面、粗糙表面、曲面、平面或台阶面。
CCI MP是一种高级的测量干涉仪（非接触式3D轮廓仪）。 它采用享有的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。
CCI MP对于很多需要进行高精度3D轮廓分析的应用非常有用。 转台上可以同步装配各种各样的标的物，因而可测量多种类型的表面。 自动的工作台和自动测量程序进一步增强了测量的灵活性。
CCI MP非接触式3D轮廓仪的一个关键优势就是功能多、用途广。 反射率为0.3%至100%的抛光表面、粗糙表面、曲面、平面或台阶面，都能使用一种算法进行测量，不需要为不同的表面改变模式，也不用担心会选择错误的模式。 可测量的材料类型包括： 玻璃、液体墨水、光刻胶、金属、聚合物和糊剂。
1.1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率
2.经过改良的新型X、Y、Z拼接，量程多达100毫米
3.RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
4.全量程埃级分辨率
5.多语言版本的Windows 7，64位软件
四:CCI光学装置
无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。
CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与无与伦比的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI优质的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。
1.2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面
4.RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
5.多语言版本的64位控制和分析软件