MARSURF XC 20 MIT PCV 200 轮廓测量站
轮廓测量的国际基准
MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过技术发展为优质质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供出色的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
可以显示用户提示
交互控制元素支持评估和自动例行程序
使用双探针测头测量上下轮廓；也可对两个轮廓进行相对评估
剖面图像，可评估各剖面的不同参数
可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量
支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值
PCV 200 驱动装置采用的测杆安装方式，无需工具即可完成可重复性测杆更换
测头系统，提高测量站灵活性
手动可变扫描力，同样提高灵活性
使用直线和圆弧合成标称轮廓
方便比较标称和实际轮廓 可通过轮廓内的描述选择不同的公差
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪技术参数：
接触速度（Z 方向） |
0.1 至 1 mm/s |
测杆长度 |
175 mm, 350 mm |
测量速度（文本） |
0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 |
25 μm |
扫描长度末尾（X 方向） |
200 mm |
分辨率 |
Z 方向，相对探针针头：0.38 μm（350 mm 测杆）/ 0.19 μm（175 mm 测杆）
在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 μm |
扫描长度开始（X 方向） |
0.2 mm |
取样角 |
在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77° |
定位速度（文本） |
X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s
Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
导块偏差 |
< 1 μm（200 mm 以上） |
测量范围 mm |
（Z 方向）50 mm |
扫描长度（文本） |
0.2 mm 至 200 mm |
测量力 (N) |
1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中设置） |
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪应用：
机器建造：轴承、螺纹、螺纹柱、滚珠丝杠、轴、支架、阀门
生产领域最需要的测量：部分自动流程中的轮廓测量
汽车业：转向、刹车系统、变速箱、曲轴、凸轮轴、气缸盖
医疗：髋关节和膝关节内用假体的轮廓测量，医用螺丝的轮廓测量，种植牙的轮廓测量
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪附件：
可选：
MarSurf ST 750 测量立柱
手动控制面板带操纵杆和显示器 MCP 21
平行虎钳，V 形块
设备工作台
软件选项：
螺纹评定选项
斜面选项
QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
拓扑选项
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪版本：
结合精密驱动和测头系统 LD 130 / 260
结合测量立柱 ST 500 或 ST 750
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪货运：
MarSurf XC 20 包含计算机、MidRange Standard 包括 XC 20 软件和 Mahr 许可密钥
TFT 显示器
MarSurf PCV 200 驱动单元
MarSurf ST 500 测量立柱包含支架
校准套件
MCP 23 手动控制面板
CT 300 XY 工作台 |
华东华南地区
