能量色散X射线荧光光谱仪使用X射线照射样品，测量所产生的荧光X射线的能量（波长）和强度，以确定样品中元素组成的种类和含量。由于X射线荧光光谱法可以非破坏性分析固体、粉末、液体样品，也可以快速、非破坏性的测试印刷电路板和其他电子设备中有害元素，因此被广泛用于全球的电子电气和汽车制造企业，应用于符合欧盟RoHS/ ELV指令的检查和质量控制。
EDX-LE荧光光谱仪概述：
降低运行成本，减少日常维护量
配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能
配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义
利用［筛选分析］画面、操作简单方便
从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能
超大样品室，可直接测试大型样品
RoHS、卤素、Sb元素筛选分析套件（选购件）一般分析功能追加套件（选购件）
能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。