科普 | 大气腐蚀试验标准中相对湿度和温度控制的考虑|新闻-上海研润光学显微镜厂

上海研润光机科技有限公司
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洛氏硬度计

维氏硬度计

显微硬度计

布氏硬度计

金相切割机

金相磨抛机

金相镶嵌机

自准直仪

金相显微镜: MMAS-4 金相显微镜分析系统（倒置偏光）; MMAS-5 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-6 金相显微镜分析系统（正置透反）; MMAS-8 金相显微镜分析系统（正置透反）; MMAS-9 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-12 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-15 金相显微镜分析系统（无限远）; MMAS-16 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-17 金相显微镜分析系统（正置透反）; MMAS-18 金相显微镜分析系统（无限远）; MMAS-19 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-20 金相显微镜分析系统（倒置偏光）; MMAS-21 集成电路金相显微镜分析系统; MMAS-22 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-23 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-24 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-25 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-26 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-27 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-28 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-29 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-100 金相显微镜分析系统（正置）; MMAS-200 金相显微镜分析系统（正置）; 4XI 单目倒置金相显微镜; 4XB 双目倒置金相显微镜; 4XC 三目倒置金相显微镜; 5XB 双目倒置偏光金相显微镜; 6XB 正置三目金相显微镜; 6XD 正置双目偏光金相显微镜; 7XB 大平台集成电路检测金相显微镜; 8XB 大平台明暗场芯片检查金相显微镜; 9XB 正置无限远偏光金相显微镜; 10XB 正置无限远明暗场偏光金相显微镜; 11XB 研究级透反射偏光暗场金相显微镜; 102XB 工业正置明暗场偏光金相显微镜; 4XC-ST 三目倒置金相显微镜; 5XB-PC 电脑型倒置偏光金相显微镜; 6XB-PC 电脑型正置金相显微镜; 6XD-PC 电脑型正置偏光金相显微镜; 7XB-PC 电脑型集成电路检测金相显微镜; 8XB-PC 电脑型芯片检查金相显微镜; 9XB-PC 电脑型正置偏光金相显微镜; 10XB-PC 电脑型正置明暗场金相显微镜; 11XB-PC 电脑型研究级DIC金相显微镜; 102XB-PC 电脑型正置明暗场金相显微镜; AMM-8ST 三目倒置卧式金相显微镜; AMM-17 透反射金相显微镜; AMM-200 三目正置金相显微镜; JC-10 读数显微镜; BJ-X 便携式测量金相显微镜; HMM-200 便携式测量金相显微镜; HM-240 便携式金相显微镜; HMM-240 便携式测量金相显微镜; HMM-240S 便携式视频测量金相显微镜

体视显微镜: SM-2C 定倍体视显微镜(上光源); SM-3C 定倍体视显微镜(双光源); SM-4L 连续变倍体视显微镜; SM-5L 连续变倍体视显微镜(上光源); SM-6L 连续变倍体视显微镜(双光源); SM-7L 连续变倍体视显微镜(双光源); SM-8L 连续变倍体视显微镜(上光源); SM-9L 连续变倍体视显微镜; SM-10L 连续变倍体视显微镜(双光源); SMAS-11 体视显微图像分析测量系统; SMAS-12 体视显微图像分析测量系统(单); SMAS-13 体视显微图像分析测量系统(双); SMAS-14 体视显微图像分析测量系统(双); SMAS-15 体视显微图像分析测量系统(单); SMAS-16 体视显微图像分析测量系统; SMAS-17 体视显微图像分析测量系统(双); SMAS-18 体视显微图像分析测量系统; WPAS-19 焊接熔深立体显微分析系统; PXS 定倍体视显微镜; XYR 三目连续变倍体视显微镜; XTZ-03 连续变倍体视显微镜; XTZ-E 三目连续变倍体视显微镜

生物显微镜: BID-100 倒置相衬生物显微镜; BID-200 倒置相衬生物显微镜; BID-300 倒置无限远生物显微镜; BID-400 倒置偏光调制相衬生物显微镜; BID-500 倒置透射相衬生物显微镜; BID-600 倒置透射微分干涉相衬生物显微镜; BI-10 单目生物显微镜; BI-11 单目生物显微镜; BI-12 单目生物显微镜; BI-13 单目生物显微镜; BI-14 双目生物显微镜（偏光）; BI-15 双目生物显微镜（偏光）; BI-16 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-17 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-18 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-19 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-20 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-21 生物显微镜（相衬、无限远）; BI-22 生物显微镜（相衬、无限远）; BI-23 生物显微镜（相衬、无限远、暗场）; BI-24 生物显微镜（相衬、无限远、暗场; BI-25 生物显微镜（相衬、无限远）; BIAS-100 倒置相衬生物显微分析系统; BIAS-200 倒置相衬生物显微分析系统; BIAS-300 倒置无限远生物显微分析系统; BIAS-400 偏光调制相衬生物显微分析系统; BIAS-500 倒置透射相衬生物显微分析系统; BIAS-600 微分干涉生物显微分析系统; BIAS-714 正置生物显微分析系统; BIAS-715 正置生物显微分析系统; BIAS-716 正置生物显微分析系统; BIAS-717 正置生物显微分析系统; BIAS-718 正置生物显微分析系统; BIAS-719 正置生物显微分析系统; BIAS-720 大行程正置生物显微分析系统; BIAS-721 大行程正置生物显微分析系统; BIAS-722 大行程正置生物显微分析系统; BIAS-723 无限远光学生物显微分析系统; BIAS-724 超大平台生物显微分析系统; BIAS-725 无限远光学生物显微分析系统; XSD-100 三目倒置生物显微镜; 37XD 三目倒置生物显微镜; XSP-8CA 三目正置生物显微镜

偏光显微镜/荧光显微镜: PM-10 简易偏光显微镜; PM-11 偏光显微镜（透、反射）; PM-12 偏光显微镜（透射）; PM-13 偏光显微镜（无限远）; PM-14 偏光显微镜（无限远、反射）; PBAS-20 偏光显微分析系统; PBAS-21 偏光显微分析系统; PBAS-22 偏光显微分析系统; PBAS-23 偏光显微分析系统; PBAS-24 偏光显微分析系统; PBAS-25 偏光显微分析系统; PBAS-26 偏光显微分析系统; PBAS-27 偏光显微分析系统; FM-100 荧光显微镜（倒置、四色）; FM-200 荧光显微镜（无限远、四色）; FM-300 荧光显微镜; FM-400 荧光显微镜（无限远）; FM-500 荧光显微镜（无限远）; FM-600 荧光显微镜（无限远）; FBAS-100 荧光显微分析系统; FBAS-200 荧光显微分析系统; FBAS-300 荧光显微分析系统; FBAS-400 荧光显微分析系统; FBAS-500 荧光显微分析系统; FBAS-600 荧光显微分析系统

其它显微镜(工具/比较/进口): 19JC 数字式万能工具显微镜; 19JPC 微机式万能工具显微镜; 19JPC-V 影像式万能工具显微镜; XZB-4C 比较显微镜; XZB-8F 比较显微镜; XZB-14 比较显微镜; 进口显微镜

洛氏硬度计: HR-150A 洛氏硬度计; HR-150DT 电动洛氏硬度计; HRS-150 数显洛氏硬度计; HRS-150M 触摸屏洛氏硬度计; HRZ-150 智能触摸屏洛氏硬度计; HRZ-150S 智能触摸屏全洛氏硬度计; ZHR-150S 电脑洛氏硬度计; ZHR-150SS 电脑全洛氏硬度计; ZXHR-150S 电脑塑料洛氏硬度计; HRZ-45 智能触摸屏表面洛氏硬度计; ZHR-45S 电脑表面洛氏硬度计; HBRV-187.5 布洛维硬度计; HBRVS-187.5 智能数显布洛维硬度计; ZHBRVS-187.5 电脑布洛维硬度计

显微硬度计: HV-1000 显微硬度计; HV-1000Z 自动转塔显微硬度计; HVS-1000 数显显微硬度计; HVS-1000Z 数显自动转塔显微硬度计; HVS-1000M 触摸屏显微硬度计; HVS-1000MZ 触摸屏自动转塔显微硬度计; HMAS-D 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DS 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DSZ 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DSM 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DSMZ 显微硬度计测量分析系统; HMAS-CSZD 显微硬度计测量分析系统; HMAS-CSZA 显微硬度计测量分析系统; HMAS-ROLL 版辊显微硬度测量分析系统

维氏硬度计 MC010系列: HV5-50 维氏硬度计; HV5-50Z 自动转塔维氏硬度计; HVS5-50M 触摸屏维氏硬度计; HVS5-50MZ 触摸屏自动转塔维氏硬度计; FV 研究型维氏硬度计; HMAS-D5 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-D5Z 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-D5SM 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-D5SMZ 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-C5SZA 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-HT 高温维氏硬度计测控系统; HMAS-LT 超低温维氏硬度计测控系统; HV-5 5公斤力维氏硬度计; HV-10 10公斤力维氏硬度计; HV-20 20公斤力维氏硬度计; HV-30 30公斤力维氏硬度计; HV-50 50公斤力维氏硬度计; HVS-5 5公斤力数显维氏硬度计; HVS-10 10公斤力数显维氏硬度计; HVS-20 20公斤力数显维氏硬度计; HVS-30 30公斤力数显维氏硬度计; HVS-50 50公斤力数显维氏硬度计; HV-5Z 5公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-10Z 10公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-20Z 20公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-30Z 30公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-50Z 50公斤力自动转塔维氏硬度计; HVS-5Z 5公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-10Z 10公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-20Z 20公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-30Z 30公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-50Z 50公斤力数显转塔维氏硬度计

布氏硬度计 MC010系列: HB-2 锤击式布氏硬度计; HBE-3000A 电子布氏硬度计; HBE-3000C 数显布氏硬度计; HBS-3000 数显布氏硬度计; HBS-3000L 触摸屏布氏硬度计; HMAS-DHB 布氏硬度计测量分析系统; HMAS-DHBL 布氏硬度计测量分析系统; HMAS-HB 便携式布氏硬度测量分析系统; HBM-2017A 数显异形布氏硬度计

邵氏硬度计/巴氏硬度计 MC010系列: 934-1 巴氏硬度计; LX-A/D/C 邵氏橡胶硬度计; LXS-A/D/C 数显邵氏硬度计; HLX-A/C 邵氏硬度计支架; HLX-D 邵氏硬度计支架; HLXS-A/C 数显邵氏硬度计支架; HLXS-D 数显邵氏硬度计支架

进口硬度计: MIC10 超声波硬度计; MIC20 组合式超声波硬度计; TIV 便携式光学硬度计; TKM-459 超声波硬度计; DynaMIC 回弹硬度监测仪; DynaPOCKET 动态回弹硬度计

硬度计耗材/配件 MC010系列

自准直仪/平面度检查仪 MC030系列: 1401(1X5) 双向自准直仪(6-10米); 1401-15/20 双向自准直仪(15-20米); S1401 数显双向自准直仪(6-10米); S1401-15 数显双向自准直仪(15-20米); YR-1S 数显自准直仪(30米,1秒); YR-0.1S 数显自准直仪(30米,0.1秒); YR1000U-3050 光电自准直仪(25/10米); YR25PC02 光电自准直仪(25米,0.2角秒); YR25TL02 光电自准直仪(25米,0.2角秒); YR25D10 电子自准直仪(25米,1.0角秒); YR20TL05 光电自准直仪(20米,0.5角秒); YR20W10 远程自准直仪(20米,1.0角秒); YR10PC01 光电自准直仪(10米,0.1角秒); YR10TL01 光电自准直仪(10米,0.1角秒); YR2038 电子自准直仪(10米,1角秒); YR10TL03 光电自准直仪(10米,0.3角秒); YR10W06 远程自准直仪(10米,0.6角秒); YR05TL02 光电自准直仪(5米,0.2角秒); YR04TL001 光电自准直仪(4米,0.01角秒); YR05GMS 电子比较测角仪; YR0515GMM 小型电子比较测角仪; YROP10 电子式光学平行差测量仪; YR8-36 金属多面棱体; YR140-205 多齿分度台; YR-001D 自准直仪多轴位移工作台; YR-01X 自准直仪旋转位移工作台; YR-SL 自准直仪升降工作台; YR-5L 自准直仪光学五棱镜

金相切割机 MC004系列: QG-1 金相试样切割机; Q-2 金相试样切割机; QG-2 岩相切割机; Q-3A 金相试样切割机; Q-4A 金相试样切割机; QG-5A 金相试样切割机; QG-100 金相试样切割机; QG-100Z 自动金相试样切割机; QG-300 三轴金相试样切割机; ZQ-40 无级双室自动金相试样切割机; ZQ-50 自动精密金相试样切割机; ZQ-100/A/C 自动金相试样切割机; ZQ-150F 无级三轴自动金相试样切割机; ZQ-200/A 无级三轴金相试样切割机; ZQ-300F 无级三轴自动金相试样切割机; ZQ-300Z 自动金相试样切割机; QG-500 大型液压伺服金相试样切割机; ZY-100 导轨金相试样切割机; SYJ-150 低速金刚石切割机; SYJ-160 低速金刚石切割机

金相磨抛机 MC004系列: MPD-1 金相试样磨抛机 (单盘无级); MPD-2 金相试样磨抛机 (双盘四档单控); MP-3A 金相试样磨抛机 (三盘三控无级); MP-2A 金相试样磨抛机 (双盘双控无级); MPD-2A 金相试样磨抛机 (双盘双控无级); MPD-2W 金相试样磨抛机 (双盘单控无级); ZMP-1000 金相试样磨抛机 (单盘8试样智能); ZMP-2000 金相试样磨抛机 (双盘8试样智能); ZMP-3000 金相试样磨抛机 (智能闭环系统); ZMP-1000ZS 智能薄片自动磨抛机; BMP-1 半自动金相试样磨抛机; BMP-2 半自动金相试样磨抛机; MY-1 光谱砂带磨样机; MY-2A 双盘砂带磨样机; MPJ-35 柜式金相试样磨平机; P-1 单盘台式金相试样抛光机; P-2 双盘台式金相试样抛光机; LP-2 双盘立式金相试样抛光机; PG-2A 双盘柜式金相试样抛光机; P-2T 双盘台式金相试样抛光机; PG-2C 双盘立式金相试样抛光机; P-2A 双盘柜式金相试样抛光机; YM-1 单盘台式金相试样预磨机; YM-2 双盘台式金相试样预磨机; YM-2A 双盘台式金相试样预磨机; 研磨抛光敷料; 进口研磨抛光机

清洁度检测分析系统

材料气泡测量分析系统

电子万能试验机 MC009系列: YRST-D 数显电子拉力试验机(1-5KN); YRST-M 数显电子拉力试验机(10、20KN); YRST-M50 数显电子拉力试验机(50KN); YRWT-D 微机控制电子万能试验机(1-5KN); YRWT-M 微机电子万能试验机(10、20KN); YRWT-M50 微机控制电子万能试验机(50KN); YRWT-M100 微机电子万能试验机(100KN); YRWT-M200 微机电子万能试验机(200KN); LDW-5 微机电子拉力试验机(0.05-5吨); WDS01-2D 数显电子万能试验机(0.1-2吨); WDS10-100 数显电子万能试验机(1-10吨); WDS10-300L 数显电子万能试验机(1-30吨); WDW10-100 微机电子万能试验机(1-10吨); WDW200-300 电子万能试验机(20-30吨); AGS-X25 岛津电子万能试验机(2-5吨); AGS-X13 岛津电子万能试验机(10-30吨); 5942 Instron电子万能材料试验机(2mN-2kN); 5940 Instron电子万能材料试验机(0.5-2kN); 3300 Instron电子万能材料试验机(0.5-5kN); 5980 Instron电子万能材料试验机(10-60kN); 5960 Instron电子万能材料试验机(5-50kN); 3360 Instron电子万能材料试验机(5-50kN); 3380 Instron电子万能材料试验机(100kN); ZWIK250 Zwick万能材料试验机(5-250kN); ZWIK5 Zwick万能材料试验机(0.5-5kN)

液压万能试验机 MC009系列: WES100-300B 数显液压万能试验机; WES600-1000D 数显液压万能试验机; WEW300-600B 电脑液压万能试验机; WEW600-1000D 电脑液压万能试验机; WAW100-1000B 电液伺服万能试验机; WAW600-1000D 电液伺服万能试验机; WES-100B 10吨数显液压式万能试验机; WES-300B 30吨数显液压式万能试验机; WES-600B 60吨数显液压式万能试验机; WES-600D 60吨数显液压式万能试验机; WES-1000D 100吨数显液压式万能试验机; WEW-100B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-300B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-600B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-1000B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-600D 微机屏显液压式万能试验机; WEW-1000D 微机屏显液压式万能试验机; WAW-100B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-300B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-600B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-1000B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-600D 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-1000D 微机控制电液伺服万能试验机

冲击试验机 MC009系列: YR-1530 手动冲击试验机(300J); YR-B 半自动冲击试验机(300、500J); YRS-B 数显半自动冲击试验机(300、500J); YRW-B 微机半自动冲击试验机(300、500J); YR-Z 全自动冲击试验机(300、500J); YRS-Z 数显全自动冲击试验机(300、500J); YRW-Z 微机全自动冲击试验机(300、500J); CDW-40 冲击试验低温槽; CDW-60 冲击试验低温槽; CDW-80 冲击试验低温槽; CSL-A 冲击试样缺口手动拉床; CSL-B 冲击试样缺口电动拉床; JB-300B/500B 半自动冲击试验机; JBS-300B/500B 数显半自动冲击试验机; JBS-300Z/500Z 数显自动冲击试验机; JBW-300B/500B 电脑型冲击试验机; JBW-300Z/500Z 电脑自动冲击试验机; CST-50 冲击试样缺口投影仪; CSL-1 冲击试样缺口手动拉床; CZL-Y 冲击试样缺口液压拉床

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科普 | 大气腐蚀试验标准中相对湿度和温度控制的考虑

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作者：Sean Fowler（美国Q-Lab公司）800 Canterbury Road, Westlake OH 44145, USA 在本文中，我们将讨论操作腐蚀试验箱的实验室工程师和研究员提出的众多问题：如何测量和控制这些试验箱中的相对湿度和温度。腐蚀试验标准中对相对湿度测量和控制的描述不具体甚至某些时候是错误的，导致试验者产生了很大的困惑。设备制造商已经使用了各种各样的测量技术，每种测量技术代表对标准的一种合理解释，但是它们相互之间产生的结果不尽相同。除了这些困惑外，对相对湿度控制的需求和人们所期望的现代测试标准同样不明确。最后，实验室条件在满足这些标准要求中有什么意义呢？在标准中定义温度和相对湿度的困难关于温度和相对湿度，标准都是怎么写的？ISO 16151说明如下：“使用合适的系统保持试验箱体及其中试样在规定的温度和湿度条件下。在距离试验箱壁大于100mm的位置测量温度。” ISO9227中的描述与此非常类似。尽管ISO要求说明了试验箱壁绝缘层设计不良或其中含有加热器时可能产生问题，如下面讨论的，并未提到温度和相对湿度测量的复杂性。ASTM B117和ASTMG85对温度控制和测量的说法相同：“每个设置值及其误差代表试验箱中某个位置在平衡条下件的操作控制点，而并不代表试验箱中测试参数的均匀性……” ASTM略有提及在定义腐蚀试验条件时面临的挑战，但并未直接说明。换言之，试样周围变化的微气候给所有循环腐蚀试验带来了温度和相对湿度测量问题。例如，在干燥测试中，潮湿试样和空气交界的地方相对湿度不可避免地接近100%。但是，在距离试样表面几毫米的地方，相对湿度较低。此外，接近试验箱壁并远离潮湿表面的位置相对湿度也较低。以上事实告诉了试验箱制造商，安装传感器是一个复杂的问题。当人为地在一个大房间而不是设计精良的试验箱中进行循环腐蚀试验时，此问题会变得更加严重。很多汽车循环腐蚀方法的开发就是如此，如GMW 14872。在这种情况下，相对湿度传感器可能距离试样之间潮湿微气候一米开外甚至更远，且室内空气循环程度不如传统试验箱。于是导致室内测量和在试样附近测量得到的结果存在差异。尽管GMW 14872和大部分国际标准回避讨论相对湿度的测量位置和方法，沃尔沃还是在VCS1027.149中提供了一些指南，“加速腐蚀试验：大气腐蚀。”与ISO标准不同，沃尔沃直接说明了试验箱绝缘壁问题，而不是规定了安装传感器的最小距离。它还说，“环境试验箱应配备均匀有效的分布空气的装置，以保证试验箱中的温度和湿度变化较小。” 经验丰富的读者认为使用“应”和“小”等词，意味着该陈述不是强制要求，而是希望达到的条件。在这种情况下，撰写者明白在试验期间会产生微气候，因此，有必要避免实际上无法达到的均匀性要求。该标准还说，“湿度和温度传感器应体现出每个试验区的气候条件。”使用“体现”一词，好像是故意不精确，因为它意识到在试验期间变化的微气候条件环境中进行测量的复杂性。此外，它还暗示有多种方法可以放置传感器以得到试验箱温度和相对湿度。这把我们引到了一个有关相对湿度传感器的话题和在腐蚀环境中测量相对湿度面临的难题。现代相对湿度传感器技术名称为“湿度计”，使用电阻和电容技术测量空气中的水分。对探头的准确性和防腐蚀的权衡中，往往破坏了测量。它们中没有一个能够耐受腐蚀条件。而防止传感器腐蚀是试验箱设计中的一个重要因素，因为腐蚀溶液会降低测量的准确性并导致这些（有时）昂贵的传感器出现永久性故障。一些制造商设计出了更加聪明的机制，在使用腐蚀溶液期间取出传感器，以改善相对湿度传感器的耐用性。此类系统面临着设计的复杂性，以及结合箱体中多变的微气候，如何确定传感器的位置。像沃尔沃此类腐蚀标准很少见，因为它们描述了传感器的类型，称“使用设计用于测量高湿度水平的湿度计，如优质湿度传感器或镀金镜露点计。”第二种无法用于腐蚀试验箱，但是很多试验箱制造商使用湿球/干球温湿度计，因为其准确度高且易于校准。这项技术是在数个世纪前开发出来的，使用两个温度计，一个保持干燥，测量空气温度温，而另一个上面有吸湿“袜”以保持其在测量期间湿润。由于水汽蒸发，导致湿球温度读数较干球温度计的温度读数低。这座位于奥地利萨尔茨堡市的19中后期气象站，在2007年被选为历史地标。右图为其显示相对湿度的侧面。这个时代的湿度计常常用人类头发的张力度量，头发的张力会根据空气中的湿气含量不同而改变。通过比较这两个温度并借助完善的湿度图，就可以比较准确地确定空气的相对湿度。这些湿度计要求气流流过湿球和干球，以促进蒸发。悬挂式湿度计需要用户在头顶周围摇摆以完成测量。将此系统用于腐蚀试验箱中时，有两个因素使测试变得复杂。第工一，干球温度计必须保持干燥且湿球袜必须保持湿润、清洁且无盐。第二，必须在保持有足够的气流流经湿球以促进蒸发的前提下实现第工一点。因此，试验箱制造要么清洗湿球中的盐并保持干球干燥，要么避免湿球和干球处在腐蚀的环境中。而且，涉及到试验箱中的微气候，传感器的安装位置一直是个问题。ASTM使用“代表”一词解决此问题，而沃尔沃采用“体现”。在循环腐蚀试验期间，试验箱空气每分钟交换数次，试验箱最终达到平衡条件。这使得试验箱空气出口成为测量试验箱工作状态的理想位置。腐蚀标准中的相对湿度条件：需要些什么？我们已经讨论了在循环腐蚀试验中试验箱工作状态的复杂性及用于测量温度和相对湿度的各种技术，现在，我们可以延伸到汽车循环试验。这些试验的一个共同特征是GMW 14872称为“环境阶段”的，它是温度和相对湿度控制室中开发的测试循环的一部分。此阶段的温度为 25 ± 3°C且相对湿度为45 ± 10%。福特和大众的环境阶段温度为23°C、相对湿度为50%，采用的误差不同。混淆和一些分歧的来源是设计用于进行这些试验的腐蚀试验箱是否必须能够控制相对湿度。此回答取决于安装试验箱的实验室是否可以可靠的满足规定的条件。如果将实验室精确控制到标准所列环境条件，则可以通过打开试验箱盖子或循环室内空气到箱内试样上等方式，将试样暴露在这些条件中，从而实现试验箱内外的平衡，这样就无需调整和控制试验箱内相对湿度。但是，将实验室条件控制到这些实验要求的精确度的少之又少，尤其是在腐蚀试验中。因此，一种实际的做法是，在试验箱中控制相对湿度来取代环境多变的实验室，这在全球市场是有必要的。此外，此标准还通过测量腐蚀样片的质量损失，以证明采取良好的控制措施是有必要的，以达到要求的质量损失。在一些腐蚀试验中，正确地控制相对湿度非常重要，所以使用标准腐蚀板仍是一个趋势。针对这些多变的实验室条件，试验箱制造者在设计试验箱时面临的一大难题是，在很多环境中，很难达到环境阶段所要求的温度和相对湿度。例如，如果实验室的温度控制在25°C且相对湿度上升到60%（如在夏季月份，室外露点比较高的时候），进入腐蚀试验箱中的空气必须除湿以达到要求的45 ± 10%的相对湿度。如果实验室温度达到29°C，则必须冷却空气，以达到“环境”条件。因为这些原因，很多试验箱制造商设计了制冷机和除湿系统以实现要求的条件。汽车循环腐蚀试验的最佳实验室规范或许就是，不论标准是否特别要求，都使用有相对湿度控制功能且有空气冷却和除湿系统的试验箱。这样可以保证最佳试验重复性和再现性。试验标准：前路展望循环腐蚀试验已经有一个世纪的历史，相对而言，相对湿度控制是一个比较新的功能。与很多领域一样，标准和在售试验设备功能之间存在一定的平衡。试验箱制造商和标准撰写者必须并肩齐驱。几十年来，双方已经开发出了在设备中无相对湿度控制的方法，但是越来越多的汽车OEM厂商认为这种测试方法不可靠。随着越来越多的具有相对湿度控制的设备进入市场，标准撰写者还必须将试验方法现代化，以利用更好的试验技术，同时保持硬件中性标准，以便市场公开竞争。结论在本文中，我们讨论了腐蚀试验箱中相对湿度测量和控制的一些难题及之前采用的解决这些问题的试验标准。因为不同的测量技术可能在试验标准范围内产生不同的试验条件，所以使用质量损失样片等测量参照可能还会增加。在未来几年，试验设备制造商和标准纂写者必须就湿度控制这一重要的试验要求之阐述及改良保持持续沟通。

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