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材料测试表征系列2TEM制样﹑操作﹑数据分析﹑教程书籍资料大全引言透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，它是最常用的材料测试表征手段之一。本期【材料测试表征系列】针对TEM测试表征过程中可能遇到的问题，整理出了TEM制样﹑操作﹑数据分析﹑教程书籍资料大全，希望能为读者提供一些有价值的信息。TEM制样篇1.合集-TEM SEM 透射电镜、扫描电镜原理、样品制备技术2.《透射电镜样品制备课件讲义》3.透射电镜样品制备方法和注意事项4.透射电镜（TEM）样品制备课件【中科院物理所版】TEM操作篇1.FEI Tecnai F20 S-TWIN透射电子显微镜标准操作规程（非常详细，各种操作都包括）型号：FEI Tecnai F20S-TWIN透射电子显微镜操作规程：（一）基本操作（简单透射以及高分辨（二）选取电子衍射（三）能谱分析（四）暗场像（五）STEM（六）仪器开关机（七）STEM+EDX面扫这些文件对TEM新手非常有用2.透射电镜的使用教程及相关资料3.JEM2100培训手册TEM软件篇1.TEM图像分析处理软件DigitalMicreograph，含使用手册2.DM软件教程（一）Digitalmicrograph也可以做颗粒尺寸分析（二）DM中文说明书（三）Multivariate Histogram Analysis Users Guide rev1TEM数据分析篇1.TEM透射电镜粒径分布统计方法2.透射电镜图处理.doc3.常见晶体的标准电镜衍射花样standard TEM SAED.pdf4.TEM透射电镜衍射斑点标定深入浅出5.仅用word完成TEM透射电镜衍射斑点标定6.电镜图象解释如何对一张电子图象获得的信息作出正确的解释和判断，不但很重要，也很困难。必须建立一套相应的理论才能对透射电子象作出正确的解释。7.【张教授高清上课笔记】透射电子显微学该手稿是张老师上课时所用的讲稿。手稿是以机械工业出版社出版的《金属电子显微学》为范本，结合了张老师从事电子显微工作近20年的经验。其中对透射电子显微镜进行了详述的介绍：不论是从透镜的成像原理，衍射花样(包括复杂衍射花样)的标定，实际材料中缺陷所对应出来的成像特点(包括衍射花样)，张老师都给出了自己独特的见解，给人茅舍顿开的感觉。8.数据分析教程合集TEM教程篇1.透射电镜PPT讲义2.【TEM透射电镜】[英语]TEM入门、进阶视频教程（From Nanohub by Eric Stach)Eric Stach目前是BNL（Brookhaven National Laboratory，布鲁克黑文国家实验室）电镜组的老大，在普渡大学任教期间做了两个系列（MES582，MSE640）TEM的视频教程，都是上课期间一起录制的，上传在Nanohub上，并且配有课件pdf文档。MSE582简单介绍了TEM的使用和原理，具体的理论则在MSE640中进行讲解。可惜的是MSE640的课程Nanohub上并不全，中间有3-4课的内容跳过了。如果有大神有相关缺失的资源，欢迎分享！视频是英文的，暂时没有找过字幕。先上传MSE582的第工一课，有兴趣的话可以自行进网站在线观看或下载。附网址MSE582：https://nanohub.org/resources/3777MSE640：https://nanohub.org/resources/4092TEM书籍篇1.原版4卷本《Transmission Electron Microscopy》透射电镜的优质教材！书名：Transmission Electron Microscopy -- A Textbook for Materials Science中文名：透射电子显微学作者：David B. Williams and C. Barry Carter出版日期：最新版说明：非常精美清晰的版本，搞透射电镜的人必读的经典中的经典！本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。本书作为教材很有创新性，而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述，是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径，无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。2.2012-TEM英文新书《The Transmission Electron Microscope》The Transmission Electron MicroscopeEdited by Khan Maaz, ISBN 978-953-51-0450-6, Hard cover, 392 pages, Publisher: InTech, Published: April 04, 2012The book "The Transmission Electron Microscope" contains a collection of research articles submitted by engineers and scientists to present an overview of different aspects of TEM from the basic mechanisms and diagnosis to the latest advancements in the field. The book presents descriptions of electron microscopy, models for improved sample sizing and handling, new methods of image projection, and experimental methodologies for nanomaterials studies. The selection of chapters focuses on transmission electron microscopy used in material characterization, with special emphasis on both the theoretical and experimental aspect of modern electron microscopy techniques. I believe that a broad range of readers, such as students, scientists and engineers will benefit from this book.3.【中文STEM】高分辨扫描透射电子显微学技术——原子分辨率原子序数衬度成像《透射电子显微学进展》中关于STEM的章节C亚埃尺度电子显微术C5高分辨扫描透射电子显微学技术——原子分辨率原子序数衬度成像1引言2基本成像原理3原子分辨率电子能量损失谱4材料中的应用及实验中的具体问题5展望及新的发展....4.《TEM imaging of crystal defects》晶体缺陷的TEM图象不用多说，这个资料可谓精华中的精华5.【TEM透射电镜】[英语]TEM原理教材这是一本偏物理原理的透射电镜教材，适合有物理基础的同学深入学习TEM原理。《Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials》ISBN: 978-3-642-29760-1 (Print) 978-3-642-29761-8 (Online)About this bookThis book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.About the authorsBrent Fultz is a Professor of Materials Science and Applied Physics at California Institute of Technology, Pasadena. He is the successful co-author of a book on Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.James Howe is a Professor of Materials Science and Engineering at the University of Virginia, Charlottesville. He successfully co-authored the book Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.6.《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用》纳米界和电镜界的大牛王中林的巨著做纳米材料和电镜的必备书籍之一中文封面《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用》英文封面《Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications》7.透射电子显微学－黄孝瑛
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