《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》征求意见稿发布|新闻-上海研润光学显微镜厂

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洛氏硬度计

维氏硬度计

显微硬度计

布氏硬度计

金相切割机

金相磨抛机

金相镶嵌机

自准直仪

金相显微镜: MMAS-4 金相显微镜分析系统（倒置偏光）; MMAS-5 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-6 金相显微镜分析系统（正置透反）; MMAS-8 金相显微镜分析系统（正置透反）; MMAS-9 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-12 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-15 金相显微镜分析系统（无限远）; MMAS-16 金相显微镜分析系统（正置偏光）; MMAS-17 金相显微镜分析系统（正置透反）; MMAS-18 金相显微镜分析系统（无限远）; MMAS-19 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-20 金相显微镜分析系统（倒置偏光）; MMAS-21 集成电路金相显微镜分析系统; MMAS-22 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-23 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-24 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-25 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-26 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-27 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-28 金相显微镜分析系统（明暗场）; MMAS-29 金相显微镜分析系统（微分干涉）; MMAS-100 金相显微镜分析系统（正置）; MMAS-200 金相显微镜分析系统（正置）; 4XI 单目倒置金相显微镜; 4XB 双目倒置金相显微镜; 4XC 三目倒置金相显微镜; 5XB 双目倒置偏光金相显微镜; 6XB 正置三目金相显微镜; 6XD 正置双目偏光金相显微镜; 7XB 大平台集成电路检测金相显微镜; 8XB 大平台明暗场芯片检查金相显微镜; 9XB 正置无限远偏光金相显微镜; 10XB 正置无限远明暗场偏光金相显微镜; 11XB 研究级透反射偏光暗场金相显微镜; 102XB 工业正置明暗场偏光金相显微镜; 4XC-ST 三目倒置金相显微镜; 5XB-PC 电脑型倒置偏光金相显微镜; 6XB-PC 电脑型正置金相显微镜; 6XD-PC 电脑型正置偏光金相显微镜; 7XB-PC 电脑型集成电路检测金相显微镜; 8XB-PC 电脑型芯片检查金相显微镜; 9XB-PC 电脑型正置偏光金相显微镜; 10XB-PC 电脑型正置明暗场金相显微镜; 11XB-PC 电脑型研究级DIC金相显微镜; 102XB-PC 电脑型正置明暗场金相显微镜; AMM-8ST 三目倒置卧式金相显微镜; AMM-17 透反射金相显微镜; AMM-200 三目正置金相显微镜; JC-10 读数显微镜; BJ-X 便携式测量金相显微镜; HMM-200 便携式测量金相显微镜; HM-240 便携式金相显微镜; HMM-240 便携式测量金相显微镜; HMM-240S 便携式视频测量金相显微镜

体视显微镜: SM-2C 定倍体视显微镜(上光源); SM-3C 定倍体视显微镜(双光源); SM-4L 连续变倍体视显微镜; SM-5L 连续变倍体视显微镜(上光源); SM-6L 连续变倍体视显微镜(双光源); SM-7L 连续变倍体视显微镜(双光源); SM-8L 连续变倍体视显微镜(上光源); SM-9L 连续变倍体视显微镜; SM-10L 连续变倍体视显微镜(双光源); SMAS-11 体视显微图像分析测量系统; SMAS-12 体视显微图像分析测量系统(单); SMAS-13 体视显微图像分析测量系统(双); SMAS-14 体视显微图像分析测量系统(双); SMAS-15 体视显微图像分析测量系统(单); SMAS-16 体视显微图像分析测量系统; SMAS-17 体视显微图像分析测量系统(双); SMAS-18 体视显微图像分析测量系统; WPAS-19 焊接熔深立体显微分析系统; PXS 定倍体视显微镜; XYR 三目连续变倍体视显微镜; XTZ-03 连续变倍体视显微镜; XTZ-E 三目连续变倍体视显微镜

生物显微镜: BID-100 倒置相衬生物显微镜; BID-200 倒置相衬生物显微镜; BID-300 倒置无限远生物显微镜; BID-400 倒置偏光调制相衬生物显微镜; BID-500 倒置透射相衬生物显微镜; BID-600 倒置透射微分干涉相衬生物显微镜; BI-10 单目生物显微镜; BI-11 单目生物显微镜; BI-12 单目生物显微镜; BI-13 单目生物显微镜; BI-14 双目生物显微镜（偏光）; BI-15 双目生物显微镜（偏光）; BI-16 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-17 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-18 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-19 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-20 生物显微镜（相衬、无限远、示教）; BI-21 生物显微镜（相衬、无限远）; BI-22 生物显微镜（相衬、无限远）; BI-23 生物显微镜（相衬、无限远、暗场）; BI-24 生物显微镜（相衬、无限远、暗场; BI-25 生物显微镜（相衬、无限远）; BIAS-100 倒置相衬生物显微分析系统; BIAS-200 倒置相衬生物显微分析系统; BIAS-300 倒置无限远生物显微分析系统; BIAS-400 偏光调制相衬生物显微分析系统; BIAS-500 倒置透射相衬生物显微分析系统; BIAS-600 微分干涉生物显微分析系统; BIAS-714 正置生物显微分析系统; BIAS-715 正置生物显微分析系统; BIAS-716 正置生物显微分析系统; BIAS-717 正置生物显微分析系统; BIAS-718 正置生物显微分析系统; BIAS-719 正置生物显微分析系统; BIAS-720 大行程正置生物显微分析系统; BIAS-721 大行程正置生物显微分析系统; BIAS-722 大行程正置生物显微分析系统; BIAS-723 无限远光学生物显微分析系统; BIAS-724 超大平台生物显微分析系统; BIAS-725 无限远光学生物显微分析系统; XSD-100 三目倒置生物显微镜; 37XD 三目倒置生物显微镜; XSP-8CA 三目正置生物显微镜

偏光显微镜/荧光显微镜: PM-10 简易偏光显微镜; PM-11 偏光显微镜（透、反射）; PM-12 偏光显微镜（透射）; PM-13 偏光显微镜（无限远）; PM-14 偏光显微镜（无限远、反射）; PBAS-20 偏光显微分析系统; PBAS-21 偏光显微分析系统; PBAS-22 偏光显微分析系统; PBAS-23 偏光显微分析系统; PBAS-24 偏光显微分析系统; PBAS-25 偏光显微分析系统; PBAS-26 偏光显微分析系统; PBAS-27 偏光显微分析系统; FM-100 荧光显微镜（倒置、四色）; FM-200 荧光显微镜（无限远、四色）; FM-300 荧光显微镜; FM-400 荧光显微镜（无限远）; FM-500 荧光显微镜（无限远）; FM-600 荧光显微镜（无限远）; FBAS-100 荧光显微分析系统; FBAS-200 荧光显微分析系统; FBAS-300 荧光显微分析系统; FBAS-400 荧光显微分析系统; FBAS-500 荧光显微分析系统; FBAS-600 荧光显微分析系统

其它显微镜(工具/比较/进口): 19JC 数字式万能工具显微镜; 19JPC 微机式万能工具显微镜; 19JPC-V 影像式万能工具显微镜; XZB-4C 比较显微镜; XZB-8F 比较显微镜; XZB-14 比较显微镜; 进口显微镜

洛氏硬度计: HR-150A 洛氏硬度计; HR-150DT 电动洛氏硬度计; HRS-150 数显洛氏硬度计; HRS-150M 触摸屏洛氏硬度计; HRZ-150 智能触摸屏洛氏硬度计; HRZ-150S 智能触摸屏全洛氏硬度计; ZHR-150S 电脑洛氏硬度计; ZHR-150SS 电脑全洛氏硬度计; ZXHR-150S 电脑塑料洛氏硬度计; HRZ-45 智能触摸屏表面洛氏硬度计; ZHR-45S 电脑表面洛氏硬度计; HBRV-187.5 布洛维硬度计; HBRVS-187.5 智能数显布洛维硬度计; ZHBRVS-187.5 电脑布洛维硬度计

显微硬度计: HV-1000 显微硬度计; HV-1000Z 自动转塔显微硬度计; HVS-1000 数显显微硬度计; HVS-1000Z 数显自动转塔显微硬度计; HVS-1000M 触摸屏显微硬度计; HVS-1000MZ 触摸屏自动转塔显微硬度计; HMAS-D 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DS 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DSZ 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DSM 显微硬度计测量分析系统; HMAS-DSMZ 显微硬度计测量分析系统; HMAS-CSZD 显微硬度计测量分析系统; HMAS-CSZA 显微硬度计测量分析系统; HMAS-ROLL 版辊显微硬度测量分析系统

维氏硬度计 MC010系列: HV5-50 维氏硬度计; HV5-50Z 自动转塔维氏硬度计; HVS5-50M 触摸屏维氏硬度计; HVS5-50MZ 触摸屏自动转塔维氏硬度计; FV 研究型维氏硬度计; HMAS-D5 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-D5Z 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-D5SM 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-D5SMZ 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-C5SZA 维氏硬度计测量分析系统; HMAS-HT 高温维氏硬度计测控系统; HMAS-LT 超低温维氏硬度计测控系统; HV-5 5公斤力维氏硬度计; HV-10 10公斤力维氏硬度计; HV-20 20公斤力维氏硬度计; HV-30 30公斤力维氏硬度计; HV-50 50公斤力维氏硬度计; HVS-5 5公斤力数显维氏硬度计; HVS-10 10公斤力数显维氏硬度计; HVS-20 20公斤力数显维氏硬度计; HVS-30 30公斤力数显维氏硬度计; HVS-50 50公斤力数显维氏硬度计; HV-5Z 5公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-10Z 10公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-20Z 20公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-30Z 30公斤力自动转塔维氏硬度计; HV-50Z 50公斤力自动转塔维氏硬度计; HVS-5Z 5公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-10Z 10公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-20Z 20公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-30Z 30公斤力数显转塔维氏硬度计; HVS-50Z 50公斤力数显转塔维氏硬度计

布氏硬度计 MC010系列: HB-2 锤击式布氏硬度计; HBE-3000A 电子布氏硬度计; HBE-3000C 数显布氏硬度计; HBS-3000 数显布氏硬度计; HBS-3000L 触摸屏布氏硬度计; HMAS-DHB 布氏硬度计测量分析系统; HMAS-DHBL 布氏硬度计测量分析系统; HMAS-HB 便携式布氏硬度测量分析系统; HBM-2017A 数显异形布氏硬度计

邵氏硬度计/巴氏硬度计 MC010系列: 934-1 巴氏硬度计; LX-A/D/C 邵氏橡胶硬度计; LXS-A/D/C 数显邵氏硬度计; HLX-A/C 邵氏硬度计支架; HLX-D 邵氏硬度计支架; HLXS-A/C 数显邵氏硬度计支架; HLXS-D 数显邵氏硬度计支架

进口硬度计: MIC10 超声波硬度计; MIC20 组合式超声波硬度计; TIV 便携式光学硬度计; TKM-459 超声波硬度计; DynaMIC 回弹硬度监测仪; DynaPOCKET 动态回弹硬度计

硬度计耗材/配件 MC010系列

自准直仪/平面度检查仪 MC030系列: 1401(1X5) 双向自准直仪(6-10米); 1401-15/20 双向自准直仪(15-20米); S1401 数显双向自准直仪(6-10米); S1401-15 数显双向自准直仪(15-20米); YR-1S 数显自准直仪(30米,1秒); YR-0.1S 数显自准直仪(30米,0.1秒); YR1000U-3050 光电自准直仪(25/10米); YR25PC02 光电自准直仪(25米,0.2角秒); YR25TL02 光电自准直仪(25米,0.2角秒); YR25D10 电子自准直仪(25米,1.0角秒); YR20TL05 光电自准直仪(20米,0.5角秒); YR20W10 远程自准直仪(20米,1.0角秒); YR10PC01 光电自准直仪(10米,0.1角秒); YR10TL01 光电自准直仪(10米,0.1角秒); YR2038 电子自准直仪(10米,1角秒); YR10TL03 光电自准直仪(10米,0.3角秒); YR10W06 远程自准直仪(10米,0.6角秒); YR05TL02 光电自准直仪(5米,0.2角秒); YR04TL001 光电自准直仪(4米,0.01角秒); YR05GMS 电子比较测角仪; YR0515GMM 小型电子比较测角仪; YROP10 电子式光学平行差测量仪; YR8-36 金属多面棱体; YR140-205 多齿分度台; YR-001D 自准直仪多轴位移工作台; YR-01X 自准直仪旋转位移工作台; YR-SL 自准直仪升降工作台; YR-5L 自准直仪光学五棱镜

金相切割机 MC004系列: QG-1 金相试样切割机; Q-2 金相试样切割机; QG-2 岩相切割机; Q-3A 金相试样切割机; Q-4A 金相试样切割机; QG-5A 金相试样切割机; QG-100 金相试样切割机; QG-100Z 自动金相试样切割机; QG-300 三轴金相试样切割机; ZQ-40 无级双室自动金相试样切割机; ZQ-50 自动精密金相试样切割机; ZQ-100/A/C 自动金相试样切割机; ZQ-150F 无级三轴自动金相试样切割机; ZQ-200/A 无级三轴金相试样切割机; ZQ-300F 无级三轴自动金相试样切割机; ZQ-300Z 自动金相试样切割机; QG-500 大型液压伺服金相试样切割机; ZY-100 导轨金相试样切割机; SYJ-150 低速金刚石切割机; SYJ-160 低速金刚石切割机

金相磨抛机 MC004系列: MPD-1 金相试样磨抛机 (单盘无级); MPD-2 金相试样磨抛机 (双盘四档单控); MP-3A 金相试样磨抛机 (三盘三控无级); MP-2A 金相试样磨抛机 (双盘双控无级); MPD-2A 金相试样磨抛机 (双盘双控无级); MPD-2W 金相试样磨抛机 (双盘单控无级); ZMP-1000 金相试样磨抛机 (单盘8试样智能); ZMP-2000 金相试样磨抛机 (双盘8试样智能); ZMP-3000 金相试样磨抛机 (智能闭环系统); ZMP-1000ZS 智能薄片自动磨抛机; BMP-1 半自动金相试样磨抛机; BMP-2 半自动金相试样磨抛机; MY-1 光谱砂带磨样机; MY-2A 双盘砂带磨样机; MPJ-35 柜式金相试样磨平机; P-1 单盘台式金相试样抛光机; P-2 双盘台式金相试样抛光机; LP-2 双盘立式金相试样抛光机; PG-2A 双盘柜式金相试样抛光机; P-2T 双盘台式金相试样抛光机; PG-2C 双盘立式金相试样抛光机; P-2A 双盘柜式金相试样抛光机; YM-1 单盘台式金相试样预磨机; YM-2 双盘台式金相试样预磨机; YM-2A 双盘台式金相试样预磨机; 研磨抛光敷料; 进口研磨抛光机

清洁度检测分析系统

材料气泡测量分析系统

电子万能试验机 MC009系列: YRST-D 数显电子拉力试验机(1-5KN); YRST-M 数显电子拉力试验机(10、20KN); YRST-M50 数显电子拉力试验机(50KN); YRWT-D 微机控制电子万能试验机(1-5KN); YRWT-M 微机电子万能试验机(10、20KN); YRWT-M50 微机控制电子万能试验机(50KN); YRWT-M100 微机电子万能试验机(100KN); YRWT-M200 微机电子万能试验机(200KN); LDW-5 微机电子拉力试验机(0.05-5吨); WDS01-2D 数显电子万能试验机(0.1-2吨); WDS10-100 数显电子万能试验机(1-10吨); WDS10-300L 数显电子万能试验机(1-30吨); WDW10-100 微机电子万能试验机(1-10吨); WDW200-300 电子万能试验机(20-30吨); AGS-X25 岛津电子万能试验机(2-5吨); AGS-X13 岛津电子万能试验机(10-30吨); 5942 Instron电子万能材料试验机(2mN-2kN); 5940 Instron电子万能材料试验机(0.5-2kN); 3300 Instron电子万能材料试验机(0.5-5kN); 5980 Instron电子万能材料试验机(10-60kN); 5960 Instron电子万能材料试验机(5-50kN); 3360 Instron电子万能材料试验机(5-50kN); 3380 Instron电子万能材料试验机(100kN); ZWIK250 Zwick万能材料试验机(5-250kN); ZWIK5 Zwick万能材料试验机(0.5-5kN)

液压万能试验机 MC009系列: WES100-300B 数显液压万能试验机; WES600-1000D 数显液压万能试验机; WEW300-600B 电脑液压万能试验机; WEW600-1000D 电脑液压万能试验机; WAW100-1000B 电液伺服万能试验机; WAW600-1000D 电液伺服万能试验机; WES-100B 10吨数显液压式万能试验机; WES-300B 30吨数显液压式万能试验机; WES-600B 60吨数显液压式万能试验机; WES-600D 60吨数显液压式万能试验机; WES-1000D 100吨数显液压式万能试验机; WEW-100B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-300B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-600B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-1000B 微机屏显液压式万能试验机; WEW-600D 微机屏显液压式万能试验机; WEW-1000D 微机屏显液压式万能试验机; WAW-100B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-300B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-600B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-1000B 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-600D 微机控制电液伺服万能试验机; WAW-1000D 微机控制电液伺服万能试验机

冲击试验机 MC009系列: YR-1530 手动冲击试验机(300J); YR-B 半自动冲击试验机(300、500J); YRS-B 数显半自动冲击试验机(300、500J); YRW-B 微机半自动冲击试验机(300、500J); YR-Z 全自动冲击试验机(300、500J); YRS-Z 数显全自动冲击试验机(300、500J); YRW-Z 微机全自动冲击试验机(300、500J); CDW-40 冲击试验低温槽; CDW-60 冲击试验低温槽; CDW-80 冲击试验低温槽; CSL-A 冲击试样缺口手动拉床; CSL-B 冲击试样缺口电动拉床; JB-300B/500B 半自动冲击试验机; JBS-300B/500B 数显半自动冲击试验机; JBS-300Z/500Z 数显自动冲击试验机; JBW-300B/500B 电脑型冲击试验机; JBW-300Z/500Z 电脑自动冲击试验机; CST-50 冲击试样缺口投影仪; CSL-1 冲击试样缺口手动拉床; CZL-Y 冲击试样缺口液压拉床

光谱仪

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CNAS-CL11《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》网上公示征求意见各相关机构及人员：目前，新版ISO/IEC17025:2017已经发布，CNAS-CL01:2018征求意见稿已对外征求意见，CNAS-CL11:2015也同步进行文件修订。在本次修订中，经过CNAS电气专业委员会讨论并组织专家进行研究决定，将CNAS-CL15：2006《实验室能力认可准则在电声检测领域的应用说明》进行技术更新后，作为附录加入CNAS-CL11:2018《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》。现将修订后的征求意见稿在网上公示，征求社会各方的意见和建议。相关机构和人员如有任何意见，请填写随附的《CNAS文件意见征询表》，并于2018年2月8日前邮件反馈至CNAS秘书处。联系人：王黎雯电话：010-87928520E-mail：wanglw@cnas.org.cn特此通知。附件1：CNAS-CL11:2018《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》(征求意见稿)附件2：CNAS-CL11:2018《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》(征求意见稿)修订说明附件3：CNAS文件意见征询表附录一检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明前言本文件由中国合格评定国家认可委员会(CNAS)制定，是CNAS根据电气检测领域的特性而对CNAS-CL01：2018《检测和校准实验室能力认可准则》所作的进一步说明，并不增加或减少该准则的要求。本文件与CNAS-CL01：2018《检测和校准实验室能力认可准则》同时使用。在结构编排上，本文件章、节的条款号和条款名称均采用CNAS-CL01：2018中章、节条款号和名称，对CNAS-CL01：2018应用说明的具体内容在对应条款中给出。本文件的附录A和附录B为规范性附录，附录的序号及内容与CNAS-CL01：2018不对应。本文件代替：CNAS-CL11：2015。相对于CNAS-CL11：2015，本文件编辑性修订内容主要为：——按照CNAS-CL01：2018的章、节的条款号和条款名称变化情况修改本文对应的章、节的条款号和条款名称;——修改本文部分用语措辞，改用CNAS-CL01：2018的措辞。相对于CNAS-CL11：2015，本文件主要技术变化为：——增加附录B，明确电声检测领域的应用要求;——按照CNAS-CL01：2018中7.6.3的内容修改7.6.3要求内容。检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明1 范围本文件适用于CNAS对进行电气检测领域实验室的认可活动。电气检测领域包括设备、仪器、装置、元件和材料的电气性能、安全和环境试验。2 引用标准3 术语和定义4 通用要求5 结构要求6 资源要求6.1 总则6.2 人员6.2.1 实验室所有操作专门设备、从事检测、评价结果、签署检测报告的人员应具有相应的电气检测基础理论和专业知识。注：实验室人员相关要求可参照CNAS-CL52的6.2条款。6.2.2实验室应制定培训计划使从事电气领域检测人员了解必要的安全防护措施以防止检测中会出现的电击、热危险、燃烧、机械损伤、有毒有害气体、化学、辐射等对人身构成威胁。6.3 设施和环境条件6.3.1a) 根据电气领域的检测项目的特性和所要求的测量准确度，实验室应对可能影响检测结果的环境条件进行监控和记录。必要时采取措施，以防止因环境的原因导致检测结果无效或对检测质量造成不利影响。这类措施包括(但不限于)：——应具备可靠的接地措施并予以维护，如果需要，应提供到每个电气检测设备的保护地;——如果检测项目和/或所用的检测设备对背景电磁辐射敏感，应安装适当的电磁屏蔽、吸收、接地、隔离或滤波之类设施并予以监控和维护;——如果检测项目和/或所用的检测设备对背景声频敏感，应安装适当的声频屏蔽、消音或隔离之类设施;——如果检测项目和/或所用的检测设备对静电敏感，应安装适当的防静电工作台面、防静电地板、接地设施以及其他防静电用品。——如果检测项目和/或所用的检测设备对气候环境敏感或有特殊要求，例如湿度，大气压力等，则应有满足特殊要求的特殊环境设施或措施。——如果检测项目和/或所用的检测设备对机械振动和冲击敏感，应保持与振动和冲击源的有效隔离。b) 实验室应配备足够的电源容量，并确保试验用电源特性，如电压额定值、频率额定值、电压稳定度、频率稳定度、谐波畸变等，符合检测标准要求或保证检测结果的不确定度在预计的范围内。c) 实验室的检测工作电源应由独立电路供应，并应与空调电源、照明电源分开。d) 实验室的面积应满足检测工作的需要，应为工作设备和所有必要的辅助设备和仪器保留存储空间，应给检测人员和管理人员留有足够的操作空间。e) 实验室的检测操作区域应提供充分照明，照度应不低于250lux。f) 高压下检测设备，应按电压等级提供有充分的安全保护的房间或封闭区域和安全距离，在进行升压操作时至少应有2人在场，1人操作，1人监督和保护。此外，为确保工作人员健康和安全，实验室还应建立并实施必要的安全保护措施。这类措施包括(但不限于)：a) 对于高压试验区域，有潜在爆炸或高能射线泄漏等危险的区域应有安全隔离措施，并给出明显、醒目的警示标志。b) 对于从事高压类试验的实验室，应为检测人员配备劳动保护产品(例如安全胶鞋等)或在检测区域采取劳动安全保护措施。c) 对于从事激光光学测量的实验室，应配备专用的光学暗室，应为测量人员配备激光防护眼镜，并对相关人员进行激光安全防护的培训。d) 火焰燃烧试验用的气体应与试验区有效隔离。e) 如果检测项目产生对工作人员有害的气体，试验区域应有排放措施。f) 如果检测项目使用化学类消耗品，应对其有妥善的保管、存放、废弃的方法和程序。g) 带电操作时，操作人员应具有有效的绝缘措施。h) 如果检测项目产生过高的声、光、电磁等非电离辐射，试验区域应有消音措施或提供工作人员的保护措施。i) 实验室的故障项目试验区应设置安全隔离区和具备足够的灭火措施。j) 实验室应具备紧急出口并有明确的标识。k) 试验中高速旋转的试验样品应施加防护罩。6.4 设备6.4.1 电气实验室应具备申请认可的检测标准规定的主要项目的设备，包括辅助设备。辅助设备应确保符合检测标准的指标要求后方可投入使用。如果辅助设备的参数指标会对检测结果造成显著影响，该设备应进行校准。6.5 计量溯源性6.6 外部提供的产品和服务7 过程要求7.1 要求、标书和合同的评审7.2 方法的选择、验证和确认7.3 抽样7.4 检测和校准物品的处置任何为使样品通过检测的修改(包括电子硬件和软件修改、样品工作状态的调整等)都应记录。修改的样品也应有唯工一性标识。原样品和修改的样品的提交日期应分别记录。7.5技术记录7.6测量不确定度的评定7.6.3实验室应对定量类检测项目评定测量不确定度。注1：在不确定度评定中，电气实验室需更多的关注由检测方法和人员带来的测量不确定度影响。注2：对于电气领域的无法评定测量不确定度的定性类检测项目，实验室需更加关注以下几点：a) 环境条件满足要求;b) 设备的状态满足要求;c) 人员熟悉并严格按照操作流程和标准方法要求进行操作。7.7 确保结果的有效性实验室应对内部和外部质量控制活动的频率、实施内容、方式、责任人、满足规定限值和不满足规定限值时采取的措施进行明确的规定。针对电气领域尚未开展能力验证或基于检测性质无法开展实验室比对的检测项目，实验室应专门针对此类项目制定内部质量控制计划以满足质量保证的要求。7.8 结果报告当实验室专门针对之前报告中的检测不合格的电气项目/参数进行复测并单独出具报告时，应在复测报告中标明原报告的唯工一性信息(例如报告编号等)。当实验室使用客户提供的维持样品工作的支持设备或附件进行电气测试时，应对这些设备或附件进行确认以保证其电气参数不会对样品的检测结果的准确性造成影响。如果会造成影响，应将这些设备或附件的重要信息(例如名称、型号、编号等)列入检测报告中。7.9 投诉7.10 不符合工作7. 11 数据控制和信息管理7.11.2 当利用计算机或自动设备对检测数据采集时，应对其硬件和软件进行确认并保存确认记录。如这些硬件和软件是实验室内部开发的，还应保存开发过程的技术记录。实验室应有措施防止此类软件被非授权者随意修改。8 管理体系要求附录A ：(规范性附录)照明检测领域的应用要求1 范围本文件作为CNAS-CL11文件的附录，对CL11文件在照明检测领域(包括室内外现场照明，灯具、光源和灯控制装置)的光电参数、色度和寿命检测的特殊要求做进一步的解释和说明(汽车和摩托车灯具检测的要求不在本文件的适用范围内)。注：汽车和摩托车灯具检测的要求请参考《检测和校准实验室能力认可准则在汽车和摩托车检测领域的应用说明》。2 设施和环境条件光学检测项目环境设施(例如光学暗室等)应采取适当的措施有效隔离杂散光干扰(例如外界入射光、影响检测结果的漫反射光等)。3 计量溯源性3.1 标准灯校准标准灯应在实验室规定的适当的使用时间间隔内进行校准。注1：当工作在产生2856K相关色温的灯电流时，典型的标准灯每燃点24小时其发光强度衰减0.6%。标准灯可接受的校准周期是燃点时间30到50小时。注2：实验室需根据其标准灯的校准周期确定其期间核查的频率以保持标准灯校准状态的置信度。4方法的选择、验证和确认4.1 方法的选择a) 照明产品应按标准或客户规定的方向进行检测。b) 进行光通量性能检测时,实验室用来监控和记录流明维持率连同样品失效的检测程序应与标准方法一致。c) 使用积分球系统进行光度测量时，应制定自吸收系数修正的程序，否则应提供自吸收无需修正的证明文件。d) 必要时，实验室应考虑电参数检测设备的电损耗的修正。5检测和校准物品的处置在接收照明检测样品时，实验室应对样品的外观进行检查并记录。在进行室内外照明工程现场检测时，实验室应记录检测现场的详细情况，以确保该现场检测活动能够复现。注：对于室内外现场照明工程检测，同一个场地上的不同位置可能进行多次测试，此时可用图示的方式表达检测数据与场地中具体位置之间的对应关系。6确保结果的有效性6.1实验室应制订质量控制计划，对外部质量控制和内部质量控制活动的实施内容、方式、责任人进行明确的规定。a) 实验室在每次校准后应进行一次确认试验，以确保和证实测试系统的本次校准是可接受的。注：验证校准的方法之一是可以测试一支参考灯。参考灯的测量值应该在预定的限制范围之内，如流明输出变化<2%。b) 实验室应有文件化的方法以确保用于确认校准结果的参考灯是有效的，例如测量值不变或在规定的范围内反复出现。注：确保参考灯重复性的一个方法是可用三支灯来验证校准结果。这三支灯的测试值应在预定值的限值范围之内。c) 实验室应记录参考灯和标准灯的使用频率和使用情况。6.2实验室应制定程序来纠正参考灯的复现和标准灯的校准中出现的超出可接受范围的不符合工作。附录B ：(规范性附录)电声检测领域的应用要求1 范围本文件作为CNAS-CL11文件的附录，对CL11文件在音频电声产品、家用电器产品、信息技术设备和通信设备等电气产品的声学性能检测领域的特殊要求做进一步的解释和说明。2 人员对实验人员的要求：——听力正常(医生的证明)。注：初评时应提供一年以内听力正常的医学证明，之后应保证每两年进行一次听力正常的医学检查。对于从事主观评价的人员还需满足：——熟悉各种乐器;——熟悉各种原始声音;——熟悉试听曲目;——熟悉并掌握评价方法;——熟悉评价方法顺序。3 设施和环境条件实验室设施应满足：a) 音频电声产品性能的检测应在全消声室进行;噪声限额值的检测应在半消声室进行;声功率检测可在半消声室或混响室进行;耳机的性能检测使用耳模拟器。b) 全消声室和半消声室：全消声室和半消声室的性能要求如表1所列：表1 全消声室和半消声室的性能要求类型自由声场条件本底噪声应用频率范围距离允差全消声室50 Hz-16 000 Hz≥3 m±1 dB在20 Hz-20 kHz范围，线性计权≤30 dB，A计权≤20 dBA音频电声测量注：在一些低频要求不高的情况下，下限频率可适当放宽要求。半消声室≤630 Hz；800 Hz-5 000 Hz；≥6 300 Hz≥1.5 m±2.5 dB±2.0 dB±3.0 dBA计权≤20 dBA噪声限额值测量全消声室应满足自由声场条件，包括符合频率范围、主测量线上同声源位置有关的距离和要求的允差。其鉴定方法参考 GB/T 6882。消声室的体积、尺寸按这些要求来设定，是否达到要求，按GB/T 6882中的规定进行鉴定并应有完整的检测报告。半消声室应满足自由声场条件，包括符合 GB/T 6882中所规定的半消声室自由声场的允差要求、测试室要求和测试半球面半径的要求。c) 混响室：混响室性能应符合GB/T 6881.1的规定。混响室鉴定方法执行GB/T 6881.1。d) 耳模拟器：耳模拟器性能应符合GB/T 25498.1、IEC 60318-4和IEC 60318-7的规定。e) 试听室：扬声器主观评价用试听室性能应符合GB/T12060.13中2.1试听室的规定，其他产品主观评价用试听室性能参考此标准规定。f) 部分被测产品对测试环境的要求如表2所列：表2 部分被测产品对测试环境的要求检测产品检测内容产品检测环境性能检测主观评价传声器常温性能、主观评价全消声室试听室耳机常温性能、主观评价耳模拟器试听室扬声器常温性能、主观评价全消声室试听室扬声器系统(音箱)常温性能、主观评价全消声室试听室组合音响常温性能、主观评价全消声室试听室电子琴常温性能、主观评价全消声室试听室电视机常温性能、主观评价全消声室试听室信息技术设备通信设备家用电器（如电冰箱、空调器、洗衣机、小家电等）噪声限值、声功率半消声室、混响室—附录二《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》修订说明目前，CNAS认可的电气检测领域实验室已有一千余家，领域涉及家用电器、通信产品、照明电器、电力高压、电池、电线电缆等多个门类。近年来通过一系列的实验室认可现场评审发现，目前正在实施的CNAS-CL15：2006《实验室能力认可准则在电声检测领域的应用说明》的部分内容及要求已不再符合现今电声领域的实际情况，且该文件的部分内容与CNAS-CL11：2015《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》相重合。因此，经过CNAS电气专业委员会讨论并组织专家进行研究决定，将电声领域的应用说明要求进行技术更新后，加入CNAS-CL11《检测和校准实验室能力认可准则在电气检测领域的应用说明》的附录中，作为规范性附录执行，同时撤销CNAS-CL15：2006《实验室能力认可准则在电声检测领域的应用说明》。故本次CL11文件修订的主要内容包括：一、在附录中加入电声领域的特殊要求;二、按照新版ISO/IEC17025:2017的要求对CL11文件的正文部分进行编辑性更新。具体电声领域的技术要求更新内容主要如下：一、对人员进行了分级要求，分为通用要求和主观评价人员两个层面;二、设施和环境条件：①针对不同产品对象设施要求有改动;②表1所列全消声室和半消声室的性能要求参数有改动;③增加混响室、试听室的要求;④新版文件引用的GB、IEC标准，新版正文改为不加年号的引用;⑤表2“部分被测产品对测试环境的要求”中增加对主观评价和试听室的内容，部分检测产品合并归类。目前该文件已经完成了换版修订工作，力争进一步为电气检测领域实验室提供了规范性的指导和说明。

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