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偏光显微镜用途较大,特别适于测微小透明矿物折射率包体研究中的显微镜 偏光显微镜 这是包体研究中必不可少的基本设备之一。在研究包体形成机理时和利用包体进行测温、测压、测成分时，以及利用包体普查勘探矿床和盲矿体时均需用它，一般可用地质人员常用的透射偏光显微镜，但最好使用既适于透射光又适于反射光的两用偏光显微镜。我国光学工业正生产各种不同精密光学仪器，透射反射两用偏光显微镜也已正式生产，为我们的研究工作提供了较良好条件。下面介绍几种国内外常用透射反射两用偏光显微镜用某些其它显微镜。 干涉显微镜和相差显微镜 近年相差和干涉显微术有进展，尤其干涉显微镜很发达。 这两类显微镜原理不同，但用于同样目的。两者均能提高研究物体与其背景之间的衬度，且设备不复杂，操作简便。已广泛应用各科研究领域。地质上便于研究细小透明无色或浅色矿物，尤其适于测细小透明矿物折射率，也便于研究包体、晶体缺陷及固溶体分离。虽有专门成套产品，但一般偏光显微镜只要增加相应特制物镜和聚光镜等少许专用附件，即可变为相应的相差显微镜和干涉显微镜。 这些装置用途较大，但特别适于测微小透明矿物折射率，在偏光中测程差的精度为0.01，当薄片厚0.01-0.03mm时，测定折射率和精度可达小数后第4位，且操作较迅速。又如，地开石细小晶体在香柏木油和丁香混合液中，当明亮域法时几乎见不到；但地相差、诺马斯基微分干涉送菜主贾明一列别杰夫干涉装置下则非常清楚，这些特点将有助于包体研究。
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