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粒度测量显微镜-测量的是颗粒的表观粒度投影尺寸粒度测量 显微镜法测量的是颗粒的表观粒度，即颗粒的投影尺寸。对称性好的球状颗粒(如喷雾粉)或立方体颗粒可直接按长度计量，但对于非球状的不规则颗粒，如绪论中谈到的，这种直接计量是不可能的，颗粒的“尺寸”必须考虑到颗粒形状，有不同的表示方法。由显微刻度尺的垂线与颗粒投影轮廓线相切的两条平行线间距离来表示；Mat-tin直径在粒度分析中是常用的，由它把任意方位的颗粒划分成两个投影面积大致相等的部分；最大水平截距是指刻度尺水平方向上，从颗粒一端到另一端间的最大距离；投影面积直径则是指颗粒投影面积相当的圆的直径。在一些国家，使用投影面积直径作为制订显微镜法粒度分析的基准在实际上，粒度测量应用垂直投影法比较简单。就是说，所测颗粒在视场内向一个方向移动，顺序地无选择性地逐个进行长度测量，经过长径测长径，经过短径测短径，不转动目镜上显微刻度尺。比垂直投影法更简单的是线性切割法，即测量落在显微刻度尺上所有颗粒的被截取部分长度， 由于颗粒在玻璃片上分布是无定向的，因此只要测量的颗粒数足够多，测量结果能反映一定的真实性。粒度分布测量的颗粒数量多少，视测量结果达到稳定为原则，通常与颗粒形状、大小和分布范围有关，也与采用的测量方法有关。如对形状较规则的颗粒，测量100个颗粒也就可以了；而对不规则形状的颗粒或尺寸分布范围比较宽的颗粒，则需要测量的颗粒数量就应该多些，一般约需200--,2000个。不同的平均粒度值，在与其它粒度测量方法得到的平均粒度值进行比较时是有用的。 ‘ 遇到混合颗粒的粒度分析，其它粒度测量方法几乎是无能为力的，显微镜法是唯工一可供测量的方法。由于混合颗粒中每种组分的粒度组成与其平均粒度、颗粒形状和该组分的密度有关，因此比起同种组分的颗粒情况，计算时应稍加小心，否则容易出差错。
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