TEM穿透式电子显微镜应用简介
专业的穿透式电子显微镜(TEM)分析技术,包括各种材料试片制备
穿透式电子显微镜可应用于材料之表面型态分析、结晶结构分析以及材料成分的分析,并可提供原,子影像观察,可分析单晶与多晶结构之各种缺陷与鉴定其缺陷种类。
当电子束通过试片时,侦测器可侦测微区特性X-ray及其衍生出的光谱,并利用此光谱来分析未知的材料的化学成分,可提供快速而有力的材料分析。
TEM服务应用有哪些:
微细结构分析(晶格影像)
结晶缺陷分析
元素成分分析
电子绕射图分析
薄膜及厚度分析
杂质及汙染源分析
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